Проектирование и диагностика отладочных стендов

1. ВВЕДЕНИЕ
2. МОДЕЛИРОВАНИЕ НЕИСПРАВНОСТЕЙ
3. ПОСТРОЕНИЕ ТЕСТОВ
3.1.Построение тестового набора методом активизации существенного пути
3.2.Алгоритм построения тестового набора для комбинационной схемы методом активизации существенного пути

3.3. Построение тестов для схем памятью
3. 3.1. Комбинационная модель последоавтельностной схемы
3.3.2. Построение тестовой последовательности
по комбинационной модели последоавтельностной схемы
4. КОНТРОЛЕПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ
4.1. Метод внутреннего сканирования [3]
4.2. Метод внутрисхемного тестирования [4]
4.3. Метод граничного сканирования [5]
4.3.1. Порт тестового доступа (TAP)
4.3.2. Контроллер порта тестового доступа
4.3.3.Команды порта тестового доступа
4.4.Граничное сканирование для смешанных устройств
4.4.1. Архитектура тестовой шины
4.4.2. Система команд
4.4.3. Принципы измерения
4.5.Тестирование на системном уровне и внутрисистемное конфигурирование
5. ДИАГНОСТИРОВАНИЕ УСТРОЙСТВ ЦИФРОВЫХ ПЕРВИЧНЫХ СЕТЕЙ
5.1. Система функционального диагностирования
5.2. Технология SDH
5.3. Функциональное диагностирование в технологии SDH
5.4. Локализация неисправностей в системе передачи