*
*


CAPTCHA Image   Reload Image
X

Резонансные весы на основе атомно-силового микроскопа

курсовые работы, Физика

Объем работы: 21 стр.

Год сдачи: 2006

Стоимость: 500 руб.

Просмотров: 545

 

Не подходит работа?
Узнай цену на написание.

Оглавление
Введение
Литература
Заказать работу
Содержание
1. ВВЕДЕНИЕ И ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ 3
2. ЛИТЕРАТУРНЫЙ ОБЗОР 3

2.1. СЕНСОРНЫЕ МЕТОДЫ СЗМ 3
2.2. СОРБЦИЯ ГАЗА НА ПОВЕРХНОСТЬ ТВЕРДОГО ТЕЛА 6
3. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ УСТАНОВКА И МЕТОД ИЗМЕРЕНИЙ 8
3.1. УСТАНОВКА И ИССЛЕДУЕМЫЕ ОБЪЕКТЫ 8
3.2. ЗАДАЧА О КОЛЕБАНИЯХ БАЛКИ 9
4. РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ 12
4.1. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ДАННЫЕ 12
4.2. ТОЧНОСТЬ МЕТОДА И АРТЕФАКТЫ 14
5. ИТОГИ РАБОТЫ 17
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 18
1. Введение и постановка задачи
В настоящее время в научных исследованиях и технических приложениях часто делается акцент на миниатюризацию устройств. Английские аббревиатуры МЕМS и NEMS, которые означают соответственно микро- и наномеханические системы, все чаще встречаются в самых разных областях. Микроскопические устройства имеют рекордные параметры и характеристики по сравнению с макроскопическими аналогами, они открывают путь в новые области физики и делают возможными технологии, раньше казавшиеся фантастическими.
Для регистрации малых масс были предложены различные микроскопические резонансные системы, которые, по оценкам, позволят достичь порога чувствительности в 1 дальтон = 1,66-10"27кг [1]. Высокочувствительные резонансные системы могут основываться на различных физических принципах, могут использовать пьезокварцевые элементы, тонкие проволоки или пленки. Данная работа посвящена микровесам на основе кантилеверов для атомно-силовой микроскопии. Ее цели состоят в том, чтобы o Реализовать метод резонансного микровзвешивания с использованием кантилеверов,
оценить его чувствительность и точность. o Используя этот метод, изучить сорбционные свойства микроскопических частиц
сорбентов, применяемых в хроматографии.
2. Литературный обзор 2.1 Сенсорные методы СЗМ


Коротко рассмотрим разнообразные устройства и научно-измерительные приборы, созданные на основе кантилеверов для сканирующей зондовой микроскопии и похожих на них микроскопических балок и консолей. Схематически некоторые из этих технологий собраны на рис. 1.
Вставка (рис.1, а) соответствует самому
атомно-силовому микроскопу, в котором для
исследования профиля поверхности
используется гибкая консоль с острием на конце. Если балка состоит из двух материалов с различными коэффициентами линейного
расширения, то она может использоваться как
Рис.1 Примеры сенсоров на основе кантилеверов [2]


3
3

температурный датчик, т.к. ее отклонение будет зависеть от температуры (рис.1, b)....
Список литературы
[1] K.L. Ekinci, Y.T. Yang, M.L. Roukes, Ultimate limits to inertial mass sensing based upon
nanoelectromechanical systems // J. Appl. Phys., 2004, 95, 5 [2] H.P. Lang, M.K. Baller, R. Berger, Ch. Gerber, J.K. Gimzewski, F.M. Battiston, P. Fo
aro,
J.P. Ramseyer, E. Meyer, H. J. GuEntherodt An artificial nose based on a micromechanical
cantilever array // Analytica Chimica Acta, 1999, 393, PP. 59-65 [3] R. Berger, Ch. Gerber, J.K. Gimzewski, E. Meyer, H.J. GuEntherodt, Thermal analysis
using a micromechanical calorimeter // Appl. Phys. Lett., 1996, 69, 40 [4] J.R. Ba
es, R.J. Stephenson, M.E. Welland, Ch. Gerber, J.K. Gimzewski, Photothermal
spectroscopy with femtojoule sensitivity using a micromechanical device // Nature 1994,
372, 79. [5] H.P. Lang, R. Berger, F. Battiston, J.-P. Ramseyer, E. Meyer, С Andreoli, J. Brugger,
P. Vettiger, M. Despont, T. Mezzacasa, L. Scandella, H.-J. Giintherodt, Ch. Gerber,
J.K. Gimzewski A chemical sensor based on a micromechanical cantilever array for the
identification of gases and vapors // Appl. Phys. A, 1998, 66, S61-S64 [6] F.M. Battiston, J.-P. Ramseyer, H.P. Lang, M.K. Baller, Ch. Gerber, J.K.Gimeziwski, E.
Meyer, H.-J. Giinterodt, A chemical sensor based on a micromechanical cantilever array
with simultaneous resonance-frequency and bending readout // Sensors Actuators B, 2001,
77, 122-131. [7] T. Ono, X. Li, H. Miyashita, M. Esashi, Mass sensing of adsorbed molecules in sub-
picogram sample with ultrathin silicon resonator // Rev. Sci. Instrum., 2003, 74, 3, 1240-
1243. [8] M. Villarroya, F. Perez-Murano, С Martin, Z. Davis, A. Boisen, J. Esteve, E. Figueras, J.
Montserrat, N. Ba
iol, AFM lithography for the definition fo nanometer scale gaps:
application to the fabrication of cantilever-based sensor with electrochemical current
detection // Nanotechnology, 2004, 15, 771-776 [9] L. B. Sharos, A. Raman, S. Crittenden, R. Reifenberger...

После офорления заказа Вам будут доступны содержание, введение, список литературы*
*- если автор дал согласие и выложил это описание.

Работу высылаем в течении суток после поступления денег на счет
ФИО*


E-mail для получения работы *


Телефон


ICQ


Дополнительная информация, вопросы, комментарии:



CAPTCHA Image
Сусловиямиприбретения работы согласен.

 
Добавить страницу в закладки
Отправить ссылку другу