Структура и технические средства ИИС. Выбор ЭВМ. Базирующие устройства

Тема контрольной работы «Структура и технические средства ИИС. Выбор ЭВМ. Базирующие устройства» по дисциплине «Информационные измерительные системы».
Применение и развитие измерительной техники всегда было обуслов-лено потребностями производства, торговли и других сфер человеческой деятельности. Контрольно-изме¬рительные операции давно стали неотъемлемой частью тех¬нологических процессов и в значительной степени опреде¬ляют качество выпускаемой продукции. Прогресс измери-тельной техники неразрывно связан с научно-техническим прогрессом. Новые научные и технические задачи приводят и к новым измерительным задачам, для решения которых нужны новые средства измерений (СИ), а новые научные и технические результаты влияют на уровень измерительной техники:
- повышается точность измерений, и расширяются диа¬пазоны измерения;
- растет номенклатура измеряемых величин;
- увеличивается производительность измерительных операций, и за счет их автоматизации уменьшается влияние человеческого фактора;
- возрастает число выполняемых функций.
ИИС являются одним из наиболее ярких примеров этой взаимосвязи. Появление ИИС обусловлено в первую очередь конкретными задачами производства и научных исследова¬ний, требующих получения, обработки, отображения и хра¬нения больших объемов измерительной информации. Прак¬тическое решение этих задач оказалось возможным благодаря бурному развитию вычислительной техники и измеритель¬ной техники, в частности первичных измерительных преоб¬разователей (датчиков).

В контрольной работе мы рассмотрели структуру и технические средства ИИС, принципы выбора ЭВМ и базирующих устройств.
В работе ос¬новное внимание уделяется вопросам, общим для ИИС раз¬личного назначения: структуре ИИС и системы связи, эле¬ментной базе ИК, алгоритмам обработки для типовых групп задач, метрологическому обеспечению и анализу достовер¬ности результатов.